Diferencia entre revisiones de «Mantenimiento y Montaje de Equipos Informáticos/Tema 7/Mantenimiento correctivo»
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* Fallos no detectados a tiempo pueden causar daños irreparables en otros elementos
* Elevado gasto económico en piezas de repuesto.
===Test de la memoria R.A.M. con la aplicación memtest+===
[[File:Memtest+ fallure.jpg|thumb|Memtest+ fallure]]
'''Memtest86+''' es un [[software|programa informático]] para computadore. Su finalidad es pasar una prueba de stress a la memoria RAM del computador para encontrar errores en los módulos propiamente dichos o en los datapaths (chipset, controladoras de memoria).
== Descripción ==
[http://www.memtest.org/ Memtest86+] está diseñado para arrancar desde CD-ROM o memoria USB sin que sea necesario que el ordenador tenga instalado un sistema operativo. Las pruebas que aplica son lo suficientemente severas como para encontrar problemas en ordenadores que aparentemente funcionan bien. Con soporte para múltiples chipsets, Memtest86+ permite encontrar errores incluso en memoria con sistemas de corrección de errores.
== Cómo funciona ==
Memtest86+ escribe una serie de patrones de prueba a cada dirección de memoria, y luego lee los datos comparándolos a la búsqueda de errores.
La información acerca del chipset se puede usar para mejorar estas pruebas, especialmente en sistemas que utilizan overclock. Muchos chipsets pueden informar acerca de la velocidad de la RAM, y alguno permite el cambio de esta velocidad dinámicamente; de esta manera, con Memtest86+ se puede comprobar hasta qué punto la memoria continúa sin errores si subimos la velocidad.
== Tests ==
* ''Test 0'': Test de todos los bits direccionables en todos los bancos de memoria usando un patrón de acceso "walking ones".
* ''Test 1'': Cada dirección es escrita con el valor de su propia dirección y luego es probada para detectar diferencias. Este test es complementario y más estricto que el Test 0 y debería detectar todos los errores de direccionamiento.
* ''Test 2'': Este test utiliza el algoritmo Moving inversions con patrones de unos y ceros. Es un test rápido que solamente da errores en subsistemas de memoria muy dañados.
* ''Test 3'': Utiliza el algoritmo Moving Inversions diseñado para detectar fallos producidos por interferencia con las células de memoria adyacentes.
* ''Test 4'': Se utiliza el mismo algoritmo del paso 3 pero el patrón es un número aleatorio (más bien pseudoaleatorio) y su complemento. Es un test muy efectivo para detectar errores de datos, utilizando 60 patrones aleatorios cambiando en cada pasada del test. Por ello múltiples pasadas aumentan la eficacia.
* ''Test 5'': Este test prueba la memoria utilizando la instrucción movsl y está basado en un antiguo test llamado burnBX de Robert Redelmeier. Experimentalmente es de los test que revelan errores más sutiles.
* ''Test 6'': Es un test bastante lento pero muy efectivo para detectar errores de datos, ya que hace 32 pasadas para probar todos los patrones.
* ''Test 7'': Se escribe una serie de números aleatorios en memoria. Es comprobado y complementado y vuelto a comprobar.
* ''Test 8'': Utiliza el algoritmo Modulo-X, diseñado para evitar interferencia del subsitema de caché que podrían enmascarar algunos errores en tests anteriores. Utiliza patrones de unos y ceros.
* ''Test 9'': Se inicializa toda la RAM con un patrón y se deja inactiva 90 minutos, entonces se examina en busca de alguna variación. Se pasa dos veces, una con ceros y otra con unos. Dura 3 horas y no forma parte del test standard, hay que seleccionarlo a mano en el menú.
===CONSEJOS PRÁCTICOS A LA HORA DE ENCONTRARNOS CON UNA AVERÍA===
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