Diferencia entre revisiones de «Química/Óxidos metálicos de transición no estequiométricos»
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Es difícil determinar la estructura de los óxidos que contienen defectos, y hace relativamente poco que hemos empezado a conocer éste fenómeno: los últimos 30 años. La difracción de rayos X es el método usual para determinar la estructura de un cristal: sin embargo, este procedimiento nos conduce a la estructura promedio, por lo que solo será válido para estructuras sin defectos.
Para este tipo de determinación estructural se necesita una técnica que sea sensible a la estructura local, y tales técnicas son escasas y caras ([[EXAFS]], extended x-ray absorption fine structure). Las estructuras se definen a partir de diversas fuentes de datos: difracción de rayos X y de neutrones, medidas de densidad, espectroscopías (cuando son aplicables) y más recientemente microscopía electrónica de transmisión([[microscopio electrónico de transmisión |TEM]]) y de alta resolución ([[microscopía electrónica de transmisión de alta resolución|HREM]], high resolution electron microscopy). Las medidas magnéticas también son útiles como en el caso del FeO, [[wustita]]. Es probable que la HREM, haya hecho más que las otras técnicas para esclarecer la naturaleza de los defectos estructurales, ya que en circunstancias favorables es capaz de proporcionar información a escala atómica por "imagen de red directa".
Los óxidos no estequiométricos pueden tener importantes aplicaciones en la industria, ya que sus propiedades electrónicas, ópticas, magnéticas y mecánicas se modifican en función de las proporciones de los átomos constituyentes. Esto lo aprovechan e investigan ampliamente las industrias electrónicas.
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